车规芯片可测性设计（Automotive DFT）既要支持传统的ATE Test，也要支持In-system Test，简称IST。前者指的是自动化机台测试，后者指的是芯片在系统产品环境下的自动化测试，比如车辆启动或行驶途中对芯片进行测试。
颀观可为研发车规级芯片的企业提供上述完整的DFT设计服务，为客户在完善产品的功能安全（Functional Safety）方面提供这一不可或缺的技术保障，进而促进产品更快通过ISO26262车规体系认证。
另：我们还可以帮助那些Pin脚数量极其有限的芯片产品提供DFT设计服务。成功案例：曾做到在只有3个Digital Pin的芯片上实现完整的ATE测试方案。
除了可测性设计，IP/SoC前端、中端、后端设计服务亦是颀观之核心业务，有芯片设计领域合作需求的伙伴们可随时联系我们。
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